厚膜电阻应用低频噪声测量包括哪些方面

来源：万利隆电子阅读量：2000发布时间：2021-03-31

厚膜电阻在高压脉冲应力前后归一化噪声幅值B0/I2。与拟合参数B0相反，归一化后的噪声振幅无量纲化。出的数据类似，1/f噪声在应用高压处理时增加了大约一个数量级。在进行拟合程序后，厚膜电阻在金属涂膜单元的绝缘层中存在陷阱引起的波动所引起的洛伦兹项可以观察到电流噪声谱的轻微弯曲。尽管被1/f噪声掩盖，洛伦兹项影响了测量值和理论关系的一致性。高压脉冲应力前后的电流噪声谱分析与电阻和噪声指标的特性一致。值得注意的是，具有中等片状电阻的电阻器中的传导机制结合了导电相含量高或低的电阻器中的传导机制。

厚膜电阻应用低频噪声测量包括当前噪声频谱和噪声指数测量，提供的结果对宏观和微观结构的变化比测量的电阻值更敏感。这一事实在可靠性分析中具有特别重要的意义，当厚电阻膜的应变引起电阻的可逆变化时。当基于高片电阻组成的厚膜电阻被关注时，由于导电相的低体积分数，主要的传导机制是穿隧穿过玻璃屏障。应力会引起显著的微观结构变化，改变屏障电阻，并导致显著的电阻下降，类似于在电阻的基础上看到的中片电阻组成。

厚膜电阻实验数据表明，噪声指标值与电阻行为一致，即随着电阻的逐渐减小，NI值逐渐增加，在电阻减小的停滞期达到恒定值(饱和)对厚膜电阻的机械应变和电应变的研究表明，这两种类型的应变对这些复杂的纳米结构的行为有相反的影响。检查机械和电气应变对厚膜电阻同时产生的影响对于敏感设备的开发是特别有趣的，因为机械和电气应变同时产生可能会影响电阻承受高压处理的能力。

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